天下3D,唯快不破 | 3C行业的视觉应用合集

   2021-12-02 399170
核心提示:SICK 3D相机产品线多样,算法强大,可以根据特定的视野及特殊工况进行定制化,为客户提供更灵活的3D检测方案,满足生产效率,降低生产成本,改善生产质量。

随着我国新型基础设施加快建设、工业4.0加速发展,新兴的 3C 产品如 VR/AR、可穿戴设备、手环、智能手表、无人机等,正逐渐向大众生活延伸。受益于集成电路技术和互联网的快速发展,3C 产业快速成长,而生产过程中的检测面临诸多挑战。

SICK 3D相机产品线多样,算法强大,可以根据特定的视野及特殊工况进行定制化,为客户提供更灵活的3D检测方案,满足生产效率,降低生产成本,改善生产质量。

应用案例目录

● 手机&TWS零部件检测

● 连接器检测

● 胶路检测

● 注塑零部件尺寸检测

● 电子元器件尺寸检测

应用名称:手机&TWS零部件检测

应用描述

在手机的零部件制造及组装过程中,3D的检测类型较为多元化,包括尺寸、高度、外观、有无等。其中典型的应用包括:

● 高度段差检测,重复性精度 ≤0.02mm;

● 平面度检测,重复性精度 ≤0.02mm;

● 手机边框距离检测,重复性精度 ≤0.02mm.

选用SICK RulerX70系列一体式3D相机,可兼容多种尺寸,助力产线自动化。

应用选型:SICK 3D相机RulerX系列:RulerX20,RulerX40,RulerX70

应用难点:

1)产品种类多,视野多样。SICK产品线丰富,均有产品配套。

2)颜色类型多,高反光,兼容性要求高。SICK高性能的成像技术,真实还原产品细节数据,在复杂的光亮表面上确保高精度检测的效果。

3)检测速度快,节拍要求高。SICK M30芯片扫描帧率高达46KHz,在高速下轻松实现高精度检测。

应用图示:

a)   手机零部件有无检测

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b)   手机边框高度差检测

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c)   耳机高度差&高度检测

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应用名称:连接器检测

应用描述

连接器指电器接插件,用于连接两个有源器件的器件,传输电流或信号。连接器的PIN针压入的深度、平面度对于连接器质量至关重要。该类型主要检测内容:

连接器高度检测,重复性精度 ≤0.02mm;

● 连接器共面度检测,重复性精度 ≤0.02mm.

应用选型:SICK 3D相机RulerX/RulerXC系列

应用难点:

1)产品种类多,视野多样。SICK产品线丰富,均有产品配套。

2)检测速度快,节拍要求高。SICK M30芯片扫描帧率高达46KHz,在高速下轻松实现高精度检测。

3)PIN针长短不一,顶部针尖反光。SICK高性能的成像技术,真实还原产品细节数据,在复杂的光亮表面上确保高精度检测的效果。

应用图示:

a)   连接器高度段差检测

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b)   Pin针共面度,位置度检测

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应用名称:胶路检测

应用描述

伴随点胶工艺的日趋成熟,点胶设备具有低成本,高精度、易拆洗等特点。胶体的种类繁多,包括UV胶,AB胶,热熔胶等。检测内容包括:

● 判断有无断胶、溢胶;

● 检测胶宽、胶高,重复性精度 ≤0.02mm.

应用选型:SICK 3D相机RulerX/RulerXC系列

应用难点:

1)胶体种类多,反光特性不一致。SICK产品线丰富,均有产品配套。

2)检测速度要求400mm/s以上,节拍要求高。SICK M30芯片扫描帧率高达46KHz,在高速下轻松实现高精度检测。

3)台阶物体遮挡,胶体形态不完整。SICK高性能的成像技术,真实还原产品细节数据,在复杂的光亮表面上确保高精度检测的效果。

应用图示:

a)   透明胶路图像

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b)   圆弧部分涂胶检测

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应用名称:注塑零部件尺寸&外观检测

应用描述

外观检测:

● 脏污、堵孔、破损、双层网布和多注塑衬套不良现象。 

● 检测硅胶宽度、破损、划痕、进胶口高度、密封胶溢胶脱落等,重复精度≤0.02mm.

应用选型:SICK 3D相机RulerXR系列

应用难点:

1)产品种类多,反光特性不一致。SICK产品线丰富,均有产品配套。

2)狭窄视角,纵深拍摄。SICK RulerXR相机配套的带通滤镜优化景深,将反光噪点尽可能减少至最小。

应用图示:

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应用名称:电子元器件检测

应用描述

电子元器件作为仪器的重要组成部分,为了保证其功能的完整性,确保生产合格,需要对PCB的针脚高度,焊锡的高度/体积、特征高度等进行测量。

● 检测元器件有无缺失;

● 检测元器件高度段差,判断是否组装到位,重复性精度 ≤0.02mm.

应用选型:SICK 3D相机RulerX/RulerXC/RulerXR系列

应用难点:

产品种类多,精度要求高。SICK产品线丰富,均有产品配套。

检测速度快,节拍要求高。SICK M30芯片扫描帧率高达46KHz,在高速下轻松实现高精度检测。

单个电路板的元器件多,部分有高反光。SICK高性能的成像技术,真实还原产品细节数据,在复杂的光亮表面上确保高精度检测的效果。

应用图示:

电子元器件高度段差,有无缺失检测

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