项目 | 类别 | KSD-PA25.1-XXXMJ | |||||
概述 | 外形尺寸 | 2.5" | |||||
接口 | IDE44 | ||||||
性能 | 容量 | 8GB | 16GB | 32GB | 64GB | 128GB | 256GB |
连续读 | 30MB/S | 66MB/S | 67MB/S | 65MB/S | 67MB/S | 67MB/S | |
连续写 | 29MB/S | 51MB/S | 76MB/S | 73MB/S | 75MB/S | 75MB/S | |
随机每秒输入输出次数 | 6325 | ||||||
平均存取时间 | 0.2ms | ||||||
存储介质 | NAND闪存 | MLC-NAND Flash | |||||
功耗 | 输入电压 | 5V+/_5% | |||||
空闲 | 0.7W | ||||||
工作 | 1.8W | ||||||
可靠性与稳定性 | 写寿命 | 每天写100GB资料可以用8年 | |||||
读寿命 | 无限 | ||||||
均衡抹除算法 | 动态与静态的平衡抹除算法 | ||||||
数据保存 | 在25度下可以存放10年 | ||||||
平均故障间隔时间 | 100万小时 | ||||||
错误检查与纠错 | 每512Byte有8位或15位纠错码 | ||||||
坏块管理 | 系统自动坏块管理 | ||||||
环境 | 工作温度 | 0~70℃ | |||||
存放温度 | -40~85℃ | ||||||
冲击 | 2,000G(@0.3ms half sine wave) | ||||||
振动 | 20G(40-2000HZ) | ||||||
环境湿度 | 5-95% | ||||||
保修时间 | 2years | ||||||
量产状况 | 已量产 | NO EOL(无停产计划) | |||||
测试平台 | Intel Celeron 336 2.80GHz,DDR2 PC2-5300 512MB×2pcs single channel RAM, VIA VT8237A VIA P4M900 Chipset,Microsoft Windows XP Professional SP2 | ||||||
测试软件 | HDBench3.4.0.3, IOMeter 2006.07.27 | ||||||
物理尺寸与重量 | 厚度(mm) | 9.5+/_0.25 | |||||
宽度(mm) | 69.8+/_0.25 | ||||||
长度(mm) | 100.2+/_0.25 | ||||||
重量(g) | 75±5 |