供应全自动光学元件光谱分析仪

全自动光学元件光谱分析仪 型号：Planum-3000 用途：用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/绝对 反射率、透过率测量，偏振光测量，膜性测量。 适宜测量范围：棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。 技术参数： 波长范围：380-1000nm n 8º<反射测量角<80 º (根据样品大小尺寸相关) n 角度分辨率：0.0002 º n 重复定位精度：<0.005 º n 旋转大速度:25 º /s n 可自动设定不同角度的透过和反射率测量,全自动完成 n 样品尺寸:>5mm n 测量相对误差<0.6%(400-800nm)(I型) 测量相对误差<0.2%(400-800nm)(II型) n 可以进行S,P光测量 n 单次测量时间:<100ms n 信号接口：USB2.0 控制器接口：R232（可转接USB2.0） n 功耗60W n 电源：220V-50HZ n 操作系统Windows n 设备尺寸:1000mm*485mm*300mm