测试系统可对各类型二极管、IGBT半导体功率器件的各项动态参数进行测试。

l 开通特性测试单元：开通时间ton、上升时间tr、开通延迟时间td(on)、开通损耗Eon；

l 关断特性测试单元：关断时间toff、下降时间tf、开通延迟时间td(off)、开通损耗Eoff；

l 反向恢复测试单元：反向恢复电荷Qrr、反向恢复电流IRM、反向恢复时间trr、反向恢复损耗Erec、反向恢复电流变化率di/dt；

技术标准

GB 13869-2008 用电安全导则

GB19517-2004 国家电器设备安全技术规范

GB/T 15153.1-1998 运动设备及系统

GB 4208-2008 外壳防护等级（IP代码）（IEC 60529：2001，IDT）

GB/T 191-2008 包装储运图示标志

GB/T 15139-1994 电工设备结构总技术条件

GB/T 2423 电工电子产品环境试验

GB/T 3797-2005 电气控制设备

GB/T 4588.3-2002 印制板的设计和使用

GB/T 9969-2008 工业产品使用说明书总则

GB/T 6988-2008 电气技术用文件的编制

GB/T 3859.3 半导体变流器变压器和电抗器

GB/T 311.1 绝缘配合第1部分：定义、原则和规则

IEC 60747-2/GB/T 4023-1997半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二极管

IEC 60747-9:2007/GB/T 29332-2012   半导体器件分立器件第9部分：绝缘栅双极晶体管（IGBT）