台式露点仪FT80-1X，高纯氮气水分露点测试仪，压缩空气湿度仪

            FT80-1X/FT80-2X台式露点仪

产品概述:

   经过长年研发和悉心钻研世界低湿测量的核心技术，后成功研发出了除维萨拉DMT242 露点变送器以外的真正国产化的芯片加热核心技术，成功打破了维萨拉公司在这方面的技术垄断，经过多家公司的试用后均反馈很好，并送国家计量院严格测试符合国标。它的恒空出世将极大降低企业的采购成本，完全可以替代市场上-80℃以上的同类进口露点产品。

   芯片加热：所有水分测量探头，经过一段时间工作，由于工作环境的不良（如：油污、粉尘、腐蚀气、酸碱气体等），会对探头造成伤害，引起探头测量数据漂移产生偏差。解决的办法就是对芯片进行高温加热。一般加热在160℃以上，持续几分钟，用于蒸发芯片上的水分及油污，保证它的零位准确度。加热阶段，露点仪停止工作。经过几分钟冷却，又可进入循环测量。理论上讲温度变化与露点温度不存在关联。温度仅与相对湿度有关联，所以探头加热不影响露点温度测量。

  加热条件：我们的探头启动加热条件，当外部气体露点≤-40℃时，软件自动开启加热条件。加热温度为170 度，持续四分钟，然后进入冷却阶段约2 分钟。用于探头数据的平衡整理。为了保证探头在-40℃以上长期干燥，我们的探头温度始终恒定在30℃的环境工作（温度与露点无关），用于阻止细微的水汽与油污。所以我们有大加热170℃与小加热30℃。二者仅紧密结合，保证探头始终位于干燥环境。

详细参数：