功率半导体器件测试方案综合测试图示系统

系统概述

ENJ2005-C是一款很具有代表性的新型半导体晶体管图示系统，IV曲线自动生成，也可根据实际需求设置功能测试，直接读取数显结果。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立，保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是6 to 20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来，数据捕获的曲线可导入EXCEL等格式进一步分析研究，

通过USB或者RS232与电脑连接，通过友好的人机界面操作，即可完成测试。并实现结果以EXCEL和WORD的格式保存。提供过电保护功能，门极过电保护适配器提供了广泛的诊断测试。这些自我测试诊断被编成测试代码,以提供自我测试夹具,在任何时间都可以检测。

应用领域

领

域

军工院所、  高校、半导体器件生产厂商、

数控系统、  电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、

新能源汽车、轨道机车检修 等 ……

使

用

测试分析 /器件选型

筛选检验/生产线自动批量测试等…… 。

技术指标

主极参数

控制极参数

指标

标配

指标

标配

①主极电压

1mV-2000V

①控制极电压：

100mV-20V

②电压分辨率：

1mV

②电压分辨率：

1mV

③主极电流：

0.1nA-100A

③控制极电流：

100nA-10A

④电流分辨率：

0.1nA

⑤测试精度：

0.2%+2LSB

⑥测试速度：

0.5mS/参数